Tecniche analitico-microscopiche per lo studio dei difetti nei materiali metallici
L'AIM organizza una giornata di studio sulle "Tecniche analitico-microscopiche per lo studio dei difetti nei materiali metallici", aperte a soci e non soci, il 25 ottobre presso l'Università di Padova.
La necessità di studiare in modo approfondito “difetti” di varia natura
presenti nei materiali metallici di interesse ingegneristico e di
caratterizzare questi materiali secondo specifiche e standard
internazionali richiede spesso l’impiego di diverse tecniche
strumentali in grado di fornire informazioni di tipo strutturale,
chimico e morfologico.
Per soddisfare queste esigenze in molti
laboratori metallurgici di ambito aziendale, a fianco del tradizionale
microscopio ottico, si trovano apparecchiature più complesse, una volta
presenti solo ne i laboratori di ricerca, quali per esempio il
microscopio elettronico in scansione (SEM) con microanalisi o il
diffrattometro a raggi X.
Chi utilizza questi strumenti deve conoscerne
limiti e potenzialità e deve sapere come sfruttarli al meglio per
ottenere le informazioni più complete possibili. Altre aziende, che non
dispongono di queste attrezzature, hanno comunque la necessità di
conoscerne le caratteristiche per orientarsi al momento di richiedere
analisi all’esterno presso laboratori pubblici o privati.
La
giornata di studio intende presentare alcune significative applicazioni
di queste tecniche alla caratterizzazione di difetti strutturali e
morfologici e di danneggiamenti di origine chimica e meccanica in
ambito metallurgico.
Verranno inoltre messe a confronto le
potenzialità e i limiti delle diverse tecniche, allo scopo di fornire
indicazioni nella scelta più adeguata in relazione ai diversi problemi.
La
giornata si rivolge sia a chi quotidianamente utilizza queste tecniche
in laboratorio sia a chi occasionalmente, in produzione od in
esercizio, deve decidere come affrontare e risolvere problemi legati a
difetti, stati inclusionali o stabilità strutturali.
Programma
9.00 Registrazione dei partecipanti
9.15 Saluto di benvenuto ed introduzione alla giornata da
parte del Presidente del Centro di Studio Controllo e
Caratterizzazione dei Prodotti dr.ssa Irene Calliari
9.30 Utilizzo del SEM per lo studio delle superfici
di rottura
N. Ucciardello - Università di Roma Tor Vergata
10.10 Tecniche microanalitiche: EDS-Microraman-WDS
F. Tarterini - Università di Bologna
10.50 Microscopia ottica ed elettronica (SEM) a confronto
I. Calliari - Università di Padova
11.30 Intervallo
11.45 Approccio analitico allo studio delle inclusioni
non metalliche
S. Fera - Gruppo Riva, Milano
12.15 Tecniche di indagine di danneggiamenti per usura
G. Straffelini - Università di Trento
13.00 Pausa pranzo
14.30 Approccio analitico allo studio di rotture
da corrosione
S. Trasatti - Università di Milano
15.10 Impiego della tecnica di microdiffrazione dei raggi-X
nello studio di inclusioni e delle tensioni residue
su geometrie complesse
M. Gelfi - Università di Brescia
15.50 Apparecchiature fisse e portatili per la misura
delle tensioni residue con la tecnica
della diffrazione X
G. Marconi - 2EFFE Engineering, Manerba del Garda
16.30 Discussione e conclusioni
Brochure dell'evento (in formato pdf)
Per maggiori informazioni: AIM - Associazione Italiana Metallurgia